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    TWLJC 57-2019 晶片精密研磨盘
    晶片精密研磨盘制造技术要求检测方法
    22 浏览2025-06-02 更新pdf0.62MB 未评分
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    摘要:本文件规定了晶片精密研磨盘的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于半导体制造及其他相关领域中使用的晶片精密研磨盘。
    Title:Technical Specification for Precision Grinding Discs for Wafers
    中国标准分类号:J73
    国际标准分类号:25.100

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    TWLJC 57-2019 晶片精密研磨盘
  • 拓展解读

    TWLJC 57-2019标准主要涉及晶片精密研磨盘的技术要求和检测方法。该标准适用于半导体制造过程中用于硅晶圆等材料精密加工的研磨盘。

    标准中规定了研磨盘的物理性能指标,包括硬度、密度和表面粗糙度等。硬度应在一定范围内以保证研磨效果;密度需均匀以确保加工一致性;表面粗糙度则直接影响晶圆加工质量。

    在几何精度方面,标准对研磨盘的平面度、厚度偏差和端面跳动都有严格要求。这些参数对于保持加工稳定性至关重要。

    化学成分也是重要考量因素,标准规定了研磨盘材料的主要化学元素含量限值,以防止因材料劣化影响使用寿命。

    此外,标准还涵盖了研磨盘的使用性能测试,如耐磨性、抗腐蚀性和热稳定性等。耐磨性测试评估其在长时间工作中的耐用程度;抗腐蚀性测试检验其在恶劣环境下的适应能力;热稳定性测试验证其在高温条件下的性能表现。

    TWLJC 57-2019强调了研磨盘在整个半导体制造流程中的关键作用,并通过一系列严格的规范确保其能够满足高精度加工需求,为提升半导体产品质量提供可靠保障。

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