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    TBDT 003-2024 高速模拟数字转换芯片(ADC)测试设备
    高速模拟数字转换ADC测试设备测试方法性能评估芯片测试
    14 浏览2025-06-01 更新pdf0.28MB 未评分
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    摘要:本文件规定了高速模拟数字转换芯片(ADC)测试设备的技术要求、测试方法和性能评估指标。本文件适用于高速ADC芯片的测试设备的设计、开发、验证和使用。
    Title:High-Speed Analog-to-Digital Converter (ADC) Testing Equipment
    中国标准分类号:L70
    国际标准分类号:31.080

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    TBDT 003-2024 高速模拟数字转换芯片(ADC)测试设备
  • 拓展解读

    在TBDT 003-2024《高速模拟数字转换芯片(ADC)测试设备》标准中,有一项重要的更新是关于输入信号带宽的要求。与旧版标准相比,新版标准对输入信号带宽的定义更加精确,并且增加了对于实际应用场景下的测试要求。

    以输入信号带宽为例,老版本标准中仅笼统地规定了“设备应支持的最高频率范围”,但并未具体说明如何验证这一范围。而在TBDT 003-2024中,则明确规定了通过扫频法来确定设备的实际工作频率上限。这种方法要求测试人员使用一个可调谐的正弦波发生器,逐步提高输出信号的频率,同时监测设备输出结果的变化。当发现输出信号幅度下降到初始值的70.7%(即-3dB点)时所对应的频率即为该设备的有效带宽。

    为了确保测量准确性,还必须注意以下几点:

    1. 确保正弦波发生器具有足够的线性度和稳定性;

    2. 在每次调整频率之前让系统达到热平衡状态;

    3. 使用低噪声电源供电以减少外界干扰;

    4. 对于多通道设备,需分别独立完成各通道的测试。

    此外,在实际操作过程中还需要考虑到不同类型的ADC可能存在不同的响应特性。例如,某些类型可能在高频段会出现非线性失真现象,这需要在测试报告中加以注明。总之,按照TBDT 003-2024的新规定执行,可以更科学合理地评估高速ADC测试设备的性能指标,从而满足现代电子工程领域日益增长的需求。

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