THBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法

在THBAI 001-2024《有机发光二极管显示器表面云纹（Mura）缺陷量化方法》中，有一项重要的更新是关于Mura缺陷量化过程中灰度值阈值的设定。相较于旧版标准，新版标准对这一部分进行了更为详细的规范和调整。

在旧版标准中，对于灰度值阈值的设定较为笼统，缺乏具体的操作指导，导致不同实验室之间的测试结果可能存在较大偏差。而在新版标准中，明确规定了灰度值阈值应当基于显示器的最大亮度与最小亮度之差来计算，并且给出了具体的计算公式：

\\[ T = \\frac{L_{max} - L_{min}}{N} \\]

其中，\\(T\\)代表灰度值阈值，\\(L_{max}\\)为显示器的最大亮度，\\(L_{min}\\)为最小亮度，\\(N\\)为一个常数因子，通常取值为10到20之间，具体数值应根据实际应用场景确定。

这种变化的意义在于提高了测试结果的一致性和可比性。通过引入上述公式，可以确保无论是在哪个实验室进行测试，只要遵循相同的参数设置，就能得到相似的结果。这对于行业内质量控制和产品评估具有重要意义。

应用这种方法时，首先需要使用专业的亮度计测量待测OLED显示器的最大亮度和最小亮度。然后按照上述公式计算出灰度值阈值。接下来，在图像处理软件中加载显示器的画面截图，并将每个像素点的亮度值与计算所得的灰度值阈值进行比较。如果某个区域内的像素亮度变化超过该阈值，则认为该区域存在Mura缺陷。最后，统计所有超标区域的数量及面积占比，以此作为衡量显示器整体性能的一个关键指标。

总之，THBAI 001-2024通过对灰度值阈值设定规则的细化和完善，显著提升了Mura缺陷量化方法的科学性和准确性，为OLED显示器的质量管理和技术创新提供了有力支持。