TCGWSTC 001-2024 陶瓷原料中多种成分的测定 X 射线荧光光谱法（粉末压片）

本文以《TCGWSTC 001-2024 陶瓷原料中多种成分的测定 X射线荧光光谱法（粉末压片）》中关于样品制备部分的新旧版本差异为切入点，对新标准中的样品制备要求进行详细解读。

在旧版标准中，对于样品制备的要求较为笼统，仅规定了将样品研磨至一定细度后直接压片即可。然而，在新版标准中，这一过程得到了进一步细化和优化。具体表现为以下几个方面：

首先，新版标准明确了样品研磨的具体步骤。要求使用玛瑙研钵或其他不会引入杂质的材质进行手工研磨，直至所有颗粒均能通过200目筛网。这一步骤旨在确保样品具有足够的均匀性，从而提高测量结果的准确性。

其次，新版标准强调了样品与稀释剂混合的比例控制。推荐采用质量比为1:1的比例混合样品与氧化镁作为稀释剂，并充分搅拌均匀后再进行压片操作。这种比例的选择基于大量实验数据得出，能够有效降低基体效应的影响，提高检测精度。

最后，新版标准还特别指出，在压片过程中需要严格控制压力和时间参数。推荐使用10吨的压力持续30秒完成压片。过高的压力可能导致样品结构发生变化，影响测试结果；而过低的压力则可能造成样品层松散，增加测量误差。

通过以上分析可以看出，《TCGWSTC 001-2024》在样品制备方面的改进，不仅增强了操作规范性，更显著提升了测量结果的可靠性和重复性。这些变化对于从事相关工作的技术人员来说具有重要的指导意义。