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    TSHXCL 0021-2024 温差电致冷组件用晶棒
    温差电致冷晶棒制造性能测试
    19 浏览2025-06-01 更新pdf1.27MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了温差电致冷组件用晶棒的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于以温差电致冷技术为基础,用于制冷组件中的晶棒材料的设计、生产和检测。
    Title:Thermoelectric Cooling Components Crystal Rod
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:25.160

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    TSHXCL 0021-2024 温差电致冷组件用晶棒
  • 拓展解读

    在TSHXCL 0021-2024《温差电致冷组件用晶棒》中,有一项重要的更新内容是关于晶棒电阻率测量方法的变化。这一变化对于确保温差电致冷组件性能的一致性具有重要意义。

    晶棒电阻率测量方法的改进

    # 老版本与新版本的主要区别

    在旧版标准中,电阻率的测量通常依赖于传统的四探针法,这种方法虽然简单易行,但在实际操作过程中容易受到接触电阻和表面污染的影响,从而导致测量结果不够准确。新版标准引入了霍尔效应测试仪来测量晶棒的电阻率,这种方法能够更精确地反映材料的真实导电特性。

    # 新标准的应用方法

    使用霍尔效应测试仪测量晶棒电阻率时,首先需要将晶棒样品固定在测试台上,并确保其位置正确无误。然后,按照仪器说明书连接电源、信号输入输出端口以及数据采集系统。接下来,开启设备并设置适当的参数,如磁场强度、电流大小等。最后,记录下显示的数据并计算出电阻率值。

    通过采用霍尔效应测试仪替代传统方法,可以有效减少外界因素对测量结果的影响,提高数据的可靠性和重复性。这对于保证温差电致冷组件的质量控制至关重要,因为它直接影响到产品的热电转换效率和使用寿命。

    总之,《温差电致冷组件用晶棒》标准中关于晶棒电阻率测量方法的改进是一个非常有意义的技术进步,它不仅提高了测量精度,还为相关行业提供了更加科学合理的质量评估手段。

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