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    DB61T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程
    大功率半导体分立器件间歇寿命试验可靠性测试试验规程
    15 浏览2025-06-03 更新pdf0.49MB 未评分
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    摘要:本文件规定了大功率半导体分立器件间歇寿命试验的术语和定义、试验条件、试验步骤、数据记录与分析以及试验报告要求。本文件适用于大功率半导体分立器件的间歇寿命试验评估,以验证其可靠性和稳定性。
    Title:High Power Semiconductor Discrete Devices - Intermittent Life Test Procedure
    中国标准分类号:M63
    国际标准分类号:31.080

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    DB61T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程
  • 拓展解读

    DB61/T 1448-2021《大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程》是陕西省地方标准,旨在规范大功率半导体分立器件的间歇寿命试验方法。以下是对该标准中一些关键条款的详细解读。

    范围与术语

    标准适用于额定电压大于或等于1500V、额定电流大于或等于300A的大功率半导体分立器件。这些器件包括但不限于晶闸管、大功率二极管等。标准明确了试验的目的在于评估器件在实际应用中的可靠性和寿命。

    试验条件

    1. 环境温度:试验应在规定的环境温度范围内进行,通常为-40℃至+85℃。

    2. 湿度:相对湿度应控制在一定范围内,一般不超过95%RH。

    3. 电压和电流:根据器件的具体参数设定测试电压和电流,确保其工作在额定值附近。

    试验步骤

    1. 初始检测:在开始试验前,需对所有待测器件进行全面检查,包括外观、电气性能等。

    2. 施加应力:按照预定方案施加周期性的电压或电流应力,模拟实际使用中的极端条件。

    3. 中间检测:每隔一段时间对部分样本进行检测,记录其性能变化情况。

    4. 最终检测:完成全部应力施加后,对所有剩余样本进行最终检测,对比分析结果。

    数据处理与评估

    数据处理时应采用统计学方法,如平均值、标准偏差等来描述测试结果。评估依据主要包括以下几个方面:

    - 器件是否能够维持正常工作;

    - 性能指标的变化趋势;

    - 故障率及故障模式分析。

    注意事项

    执行本标准过程中应注意以下几点:

    - 确保试验设备精度符合要求;

    - 操作人员需经过专业培训;

    - 记录完整准确的数据以备后续分析。

    以上内容基于DB61/T 1448-2021标准编写而成,希望能帮助理解并正确实施该标准。对于更详细的条款解释,请参考原文档。

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