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《GBZ 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜)》是用于测试八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的国家标准。该标准规定了利用扫描隧道显微镜(STM)对分子在石墨表面的排列和吸附行为进行观察和分析的方法。适用于研究分子在二维材料表面的自组装特性,为纳米材料和分子电子学领域提供重要的实验依据和技术支持。
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