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资源简介
《GBT 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法》是中华人民共和国国家标准，规定了在低温条件下测定晶体材料透射率的试验方法。该标准适用于光学晶体在低温环境下的性能测试，为材料在极端温度条件下的光学特性提供了科学依据。试验方法包括样品制备、测试设备要求、温度控制及透射率测量步骤等内容，确保测试结果的准确性与可比性。该标准对于科研和工业生产中晶体材料的性能评估具有重要指导意义。
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