浙江大学，晶硅电池高温下电注入诱导衰减和再生原理（LID LETID）

《浙江大学，晶硅电池高温下电注入诱导衰减和再生原理（LID LETID）》是一篇关于太阳能电池性能退化与恢复机制的研究性论文。该文共10页，详细探讨了在高温条件下，晶硅太阳能电池中由于电注入效应引发的光致衰减（LID）以及随后的再生现象（LETID）。文章通过对晶硅材料在不同温度和光照条件下的实验分析，揭示了电注入对电池效率的影响及其可能的物理机制。

研究指出，在高温环境下，晶硅电池中的缺陷态可能会被电注入所激活，导致载流子复合增加，从而引起电池效率的下降。这种现象被称为光致衰减（LID）。然而，随着温度的变化或特定的光照条件，部分缺陷态可能会被修复，使得电池性能得到一定程度的恢复，这一过程被称为电注入诱导的再生（LETID）。

该论文不仅分析了LID和LETID的发生机理，还提出了可能的改进措施，以提高晶硅太阳能电池的稳定性和使用寿命。通过实验数据和理论模型的结合，作者为未来太阳能电池的设计和优化提供了重要的参考依据。

作为一篇由浙江大学研究人员撰写的学术论文，《浙江大学，晶硅电池高温下电注入诱导衰减和再生原理（LID LETID）》具有较高的专业性和参考价值，适合从事光伏技术研究、太阳能电池材料开发及相关领域的研究人员阅读和借鉴。