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    P型多晶PERC电池LeTID与烧结改善研究-余浩
    P型多晶PERC电池LeTID烧结工艺光致衰减晶体缺陷
    2193 浏览2025-08-15 更新pdf2.32MB 共15页未评分
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    《P型多晶PERC电池LeTID与烧结改善研究-余浩(共15页)》是一篇关于光伏电池技术的研究论文,主要探讨了P型多晶PERC(Passivated Emitter and Rear Cell)电池中的LeTID(Light and Elevated Temperature Induced Degradation,光热诱导衰减)现象及其对电池性能的影响。文章作者余浩通过对P型多晶硅材料的深入分析,揭示了LeTID产生的机理,并提出了相应的改善措施。

    LeTID是近年来在高效太阳能电池中发现的一种新型衰减现象,其主要表现为在光照和高温条件下,电池效率出现不可逆的下降。这种现象在P型多晶PERC电池中尤为显著,严重影响了其长期稳定性和使用寿命。余浩的研究通过实验手段,系统地分析了LeTID的发生条件、影响因素以及其对电池电学性能的具体影响。

    在研究过程中,余浩还重点探讨了烧结工艺对LeTID的改善作用。烧结是太阳能电池制造过程中的关键步骤,直接影响到电池的电极接触质量和整体性能。通过优化烧结温度、时间及气氛等参数,研究团队成功降低了LeTID的发生概率,提高了电池的稳定性。

    该研究不仅为P型多晶PERC电池的性能提升提供了理论依据,也为后续的光伏技术发展提供了重要的参考价值。文章结构清晰,内容详实,对于从事光伏材料与器件研究的科研人员具有重要的指导意义。



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    P型多晶PERC电池LeTID与烧结改善研究-余浩
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