作废 SJ 2354.11-1983
PIN、雪崩光电二极管列陈盲区宽度的测试方法 PIN、雪崩光电二极管列陈盲区宽度的测试方法 Method of measurement for width of blind zone of PIN and avalanche photodiode matrix
发布日期：1983-08-15
实施日期：1984-07-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
ICS分类： 31.260电子学 - 光电子学、激光设备
标准简介

本标准适用于PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试

相似标准/计划/法规
盲区雪崩宽度测试方法

最后更新时间 2025-08-27