作废 SJ 2354.14-1983
雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法 Method of measurement for excess noise factor of PIN and avalanche photodiodes
发布日期：1983-08-15
实施日期：1984-07-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
ICS分类： 31.260电子学 - 光电子学、激光设备
标准简介

本标准适用于雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试

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雪崩噪声过剩指数测试

最后更新时间 2025-08-27