作废 SJ 2355.1-1983
半导体发光器件测试方法 总则 半导体发光器件测试方法 总则 General procedures of measurement for light-emitting deivces
发布日期:1983-08-15
实施日期:1984-07-01
分类信息
标准简介
相似标准/计划/法规
JIS C 8152-3-2013
Photometry of white light emitting diode for general lighting -- Part 3: measurement methods for lumen maintenance
普通照明用白光发光二极管的光度测定第3部分:流明维持的测量方法
2013-01-01
GOST 21059.0-1975
Кинескопы для черно-белого и цветного телевидения. Общие положения проведения измерений электрических и светотехнических параметров
黑白和彩色电视机的显像管 测量电和发光参数的一般陈述
GOST R 8.785-2012
Государственная система обеспечения единства измерений. Масса газового конденсата, сжиженного углеводородного газа и широкой фракции легких углеводородов. Общие требования к методикам (методам) измерений
确保测量一致性的状态系统 碳氢化合物冷凝物 液化烃气体和轻质烃长馏分的质量 测量程序(方法)的一般要求
KS C IEC 61280-1-4
광통신 부시스템의 시험 절차 — 제1-4부: 일반 통신 부시스템 — 광원 원형 광선속 측정방법
光纤通信子系统试验程序.第1-4部分:一般通信子系统.光源环绕通量测量方法
2022-11-21
IEC 61280-1-4-2023 RLV
Fibre optic communication subsystem test procedures - Part 1-4: General communication subsystems - Light source encircled flux measurement method
光纤通信子系统试验程序.第1-4部分:一般通信子系统.光源环绕通量测量方法
2023-01-19
IEC 61280-1-4-2023
Fibre optic communication subsystem test procedures - Part 1-4: General communication subsystems - Light source encircled flux measurement method
光纤通信子系统试验程序.第1-4部分:一般通信子系统.光源环绕通量测量方法
2023-01-19
半导体总则发光器件测试

最后更新时间 2025-08-27