作废 SJ 2355.4-1983
半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法 半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法 Methods of measurement for junction capacitance of light-emitting devices
发布日期：1983-08-15
实施日期：1984-07-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
ICS分类： 31.260电子学 - 光电子学、激光设备
标准简介
相似标准/计划/法规
半导体测试方法电容发光

最后更新时间 2025-08-27