作废 SJ 2355.6-1983
半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法 半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法 Method of measurement for luminous flux of light-emitting devices
发布日期：1983-08-15
实施日期：1984-07-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件
ICS分类： 31.260电子学 - 光电子学、激光设备
标准简介
相似标准/计划/法规
IES LM-90-20
Approved Method: Measuring Luminous Flux Waveforms for Use in Temporal Light Artifact (TLA) Calculations
批准的方法:测量用于时间光伪影（TLA）计算的光通量波形
2020-06-18
GOST 11612.7-1983
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最后更新时间 2025-08-27