现行 JJF 1236-2010
半导体管特性图示仪校准规范 半导体管特性图示仪校准规范 Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers
发布日期：2010-01-05
实施日期：2010-04-05
分类信息
发布单位或类别： 中国 国家计量技术规范
CCS分类： A56综合 - 计量 - 无线电计量
ICS分类： 17.220计量学和测量、物理现象 - 电学、磁学、电和磁的测量
研制信息

归口单位： 全国无线电计量技术委员会

起草单位： 中国电子技术标准化研究所

起草人： 陈连启、 于利红、 刘冲

标准简介

本规范适用于计量比对的组织、实施和评价。其他比对可参照本规范

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最后更新时间 2025-09-01