现行 JJF 1254-2010
数显测高仪校准规范 数显测高仪校准规范 Calibration Spectification for Height Measuring Instrument with Digital Display
发布日期：2010-05-11
实施日期：2010-11-11
分类信息
发布单位或类别： 中国 国家计量技术规范
CCS分类： A52综合 - 计量 - 长度计量
ICS分类： 17.040计量学和测量、物理现象 - 长度和角度测量
研制信息

归口单位： 全国几何量工程参量计量技术委员会

起草单位： 中国科学院光电技术研究所

起草人： 匡龙、 耿丽红、 曹学东

标准简介

本规范适用于分辨力为O.1μm、O.2μm、O.5μm和1μm，量程0mm至1000mm的数显测高仪的校准

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最后更新时间 2025-09-01