现行 SN/T 2698-2010
钨制品中杂质元素分析 电感耦合等离子体原子发射光谱法 钨制品中杂质元素分析 电感耦合等离子体原子发射光谱法 Elemental analysis of impurities in tungsten products-Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
发布日期:2010-11-01
实施日期:2011-05-01
分类信息
研制信息

归口单位: 国家认证认可监督管理委员会

起草单位: 天津出入境检验检疫局

起草人: 王昊云

标准简介
相似标准/计划/法规
等离子体耦合电感杂质原子

最后更新时间 2025-09-01