现行 YDB 120.1-2013
通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)测试方法 第1部分:终端特性 通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)测试方法 第1部分:终端特性
发布日期：
实施日期：2013-03-06
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-邮电通信
CCS分类： L64电子元器件与信息技术 - 计算机 - 数据媒体
ICS分类： 35.240.15信息技术应用 - 识别卡和有关装置
标准简介

本部分规定了通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间的单线协议(SWP)终端特性的测试方法,包含CLF一UICC接口物理层、CLF电气接口、CLF-UICC4初始通信建立和数据链路层等部分的测试内容。本部分适用于支持SWP技术的终端

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