现行 YDB 122.1-2013
通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法 第1部分:终端特性 通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法 第1部分:终端特性
发布日期：
实施日期：2013-03-06
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-邮电通信
CCS分类： L64电子元器件与信息技术 - 计算机 - 数据媒体
ICS分类： 35.240.15信息技术应用 - 识别卡和有关装置
标准简介

本部分规定了通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间的主控接口(HCI)终端特性的测试方法,包含HCI的结构、HCP、指令、端口、HCI流程、非接触卡的模拟、非接触读卡器和连接特性。本部分适用于支持HCI技术的终端。本部分的测试流程适用范围中声明仅适用于主机控制器的测试流程可参考用于支持HCI的终端的测试

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最后更新时间 2025-09-02