GB/T 15651.7-2024
半导体器件 第5-7部分：光电子器件 光电二极管和光电晶体管
Semiconductor devices—Part 5-7: Optoelectronic devices—Photodiodes and phototransistors
2024-03-15
IEC 60747-5-7-2016
Semiconductor devices - Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors
半导体器件 - 第5-7部分:光电器件 - 光电二极管和光电晶体管
2016-02-23
BS 11/30252930 DC
BS EN 60747-5-7. Semiconductor devices. Discrete devices. Part 5-7. Photodiodes and phototransistors
英国标准EN 60747-5-7 半导体器件 离散设备 第5-7部分 光电二极管和光电晶体管
2011-09-07
DIN EN 60747-5-7-DRAFT
Draft Document - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors (IEC 47E/420/CD:2011)
文件草案-半导体器件-分立器件-第5-7部分:光电子器件-光电二极管和光电晶体管（IEC 47E/420/CD:2011）
2011-12-01
SJ/T 2354-2015
ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
Measuring methods for photodiodes of PIN、APD
2015-04-30
JIS C 5991-1997
Measuring methods of photodiodes for fiber optic transmission
光纤传输用光电二极管的测量方法
1997-01-01
SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
Measuring methods for semiconductor photocouplers
2015-04-30
SJ 2658-1986
半导体红外发光二极管测试方法
Method of measurement for semiconductor infrared diodes
1986-01-21
SJ/T 2749-2016
半导体激光二极管测试方法
Measuring methods for semiconductor laser diodes
2016-01-15
GOST 18986.10-1974
Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
半导体二极管 电感测量方法
GOST 18986.4-1973
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
半导体二极管 测量电容的方法
JEDEC JEB 15
TERMINOLOGY AND METHODS OF MEASUREMENT FOR BISTABLE SEMICONDUCTOR MICROCIRCUITS
双稳态半导体微电路术语和测量方法
1969-11-01
JEDEC JEB 5-A(R1984)
METHODS OF MEASUREMENT FOR SEMICONDUCTOR LOGIC GATING MICROCIRCUITS
半导体逻辑门控微电路的测量方法
1970-01-01
SJ 20788-2000
半导体二极管热阻抗测试方法
Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes
2000-10-20
SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
Measure methods of semiconductor light emitting diodes
2009-11-17
GOST 18986.24-1983
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
半导体二极管 击穿电压测量方法
GOST 18986.5-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
半导体二极管 测量过渡时间的方法
GOST 24461-1980
Приборы полупроводниковые силовые. Методы измерений и испытаний
功率半导体器件 测试和测量方法
GOST 18986.6-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
半导体二极管 测量回收费用的方法
GOST 18986.7-1973
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
半导体二极管 寿命测量方法