作废 SJ 2594-1985
高纯四氯化硅中硼及金属杂质的化学光谱分析方法 高纯四氯化硅中硼及金属杂质的化学光谱分析方法 Method for the analysis of boron and metalic impurities in pure SiC14-Spectro-chemical method
发布日期：1985-07-31
实施日期：1986-01-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： H17冶金 - 金属化学分析方法 - 半金属及半导体材料分析方法
ICS分类：
标准简介

本标准方法适用于测定高纯四氯化石丰中硼及金属杂质含量

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最后更新时间 2025-08-27