现行 SJ/T 11501-2015
碳化硅单晶晶型的测试方法 碳化硅单晶晶型的测试方法 Test method for determining crystal type of monocrystalline silicon carbide
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料
ICS分类： 29.045电气工程 - 半导体材料
研制信息

归口单位： 全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位： 中国电子科技集团公司第四十六研究所、 工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人： 丁丽、 郝建民、 周智慧

标准简介

本标准规定了利用拉曼光谱测定碳化硅单晶的结晶类型的方法

相似标准/计划/法规
碳化硅晶晶测试方法

最后更新时间 2025-09-02