现行 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 半导体光电耦合器测试方法 Measuring methods for semiconductor photocouplers
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L50电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 光电子器件综合
ICS分类： 31.080电子学 - 半导体分立器件
研制信息

归口单位： 工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草单位： 中电子科技集团公第四十四研究所

起草人： 马思华、 欧熠、 陈春霞

标准简介

标准的主要内容包括光电耦合器正向压降(二极管）、正向电流（二极管）、反向电流（二极管）、反向击穿电压（二极管）等25个参数的术语和定义、测试原理、测试步骤、测试条件

相似标准/计划/法规
SJ/T 2214-2015
半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
Measuring methods for semiconductor photodiode and phototransistor
2015-04-30
SJ 2658-1986
半导体红外发光二极管测试方法
Method of measurement for semiconductor infrared diodes
1986-01-21
SJ/T 2749-2016
半导体激光二极管测试方法
Measuring methods for semiconductor laser diodes
2016-01-15
GOST 18986.10-1974
Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
半导体二极管 电感测量方法
GOST 18986.4-1973
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
半导体二极管 测量电容的方法
JEDEC JEB 15
TERMINOLOGY AND METHODS OF MEASUREMENT FOR BISTABLE SEMICONDUCTOR MICROCIRCUITS
双稳态半导体微电路术语和测量方法
1969-11-01
JEDEC JEB 5-A(R1984)
METHODS OF MEASUREMENT FOR SEMICONDUCTOR LOGIC GATING MICROCIRCUITS
半导体逻辑门控微电路的测量方法
1970-01-01
SJ 20788-2000
半导体二极管热阻抗测试方法
Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes
2000-10-20
SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
Measure methods of semiconductor light emitting diodes
2009-11-17
GOST 18986.24-1983
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
半导体二极管 击穿电压测量方法
GOST 18986.5-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
半导体二极管 测量过渡时间的方法
GOST 24461-1980
Приборы полупроводниковые силовые. Методы измерений и испытаний
功率半导体器件 测试和测量方法
GOST 18986.6-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
半导体二极管 测量回收费用的方法
GOST 18986.7-1973
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
半导体二极管 寿命测量方法
GOST R 50471-1993
Излучатели полупроводниковые. Метод измерения угла излучения
半导体照相机半角度角度测量方法
GB/T 14140-2009
硅片直径测量方法
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
2009-10-30
KS C 6563(2016 Confirm)
반도체 압력 센서 소자의 주요 측정 방법
主要测量方法的半导体压力传感器元件
1996-12-30
BS ISO 17915-2018
Optics and photonics. Measurement method of semiconductor lasers for sensing
光学和光子学 传感用半导体激光器的测量方法
2018-05-31
SJ 20787-2000
半导体桥式整流器热阻测试方法
Measurment method for thermal resistance of semiconductor bridge rectifieres
2000-10-20
SJ 20026-1992
金属氧化物半导体气敏元件测试方法
Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
1992-02-01
半导体耦合器光电测试方法

最后更新时间 2025-09-02