起草单位： 天津复印技术研究所、 珠海天威飞马打印耗材有限公司、 夏普办公设备(常熟)有限公司、 理光图像技术（上海)有限公司深圳分公司、 湖北鼎龙化学股份有限公司、 柯尼卡美能达(中国)投资有限公司、 上海富士施乐有限公司、 兄弟(中国)商业有限公司、 东芝泰格信息系统(深圳）有限公司、 佳能(中国)有限公司
起草人： 刘慧玲、 张希平、 王强、 刘生应、 鲁丽平、 陈挺、 仇相如、 麦洪琦、 陈颂昌、 鲁俊和
本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告的要求。本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量
最后更新时间 2025-09-02