现行 SJ/T 11491-2015
短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量 Test methods for measurement of interstitial oxygen content in silicon by short baseline infrared absorption spectrometry
发布日期:2015-04-30
实施日期:2015-10-01
分类信息
研制信息

归口单位: 全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位: 信息产业专用材料质量监督检验中心、 工业和信息化部电子工业标准化研究院、 苏州晶瑞化学有限公司

起草人: 李静、 何秀坤、 刘兵

标准简介

本标准规定了用短基线红外光谱法测定硅中间隙氧含量

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最后更新时间 2025-09-02