SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法查询及相关下载-文档家

现行 SJ/T 11632-2016

太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法 Test method for microcrack defects of silicon wafers for solar cell

发布日期：2016-04-05

实施日期：2016-09-01

分类信息

发布单位或类别：中国行业标准-电子

ICS分类： 77.040冶金 - 金属材料试验

研制信息

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位：中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司

起草人：熊伟、贺东江、卫国军

标准简介

本标准规定了太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法，主要内容包括规范性引用文件、术语和定义、方法原理、干扰因素、仪器设备、试样要求、测试环境、测试程序、精密度和试验报告等

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最后更新时间 2025-09-02