作废 YS/T 1105-2016
半导体封装用键合银丝 半导体封装用键合银丝 Silver bonding wire for semiconductor package
发布日期:2016-04-05
实施日期:2016-09-01
分类信息
研制信息

归口单位: 全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)

起草单位: 烟台一诺电子材料有限公司、 北京达博有色金属焊料有限责任公司、 有色金属技术经济研究院、 山东科大鼎新电子科技有限公司

起草人: 林良、 向翠华、 向磊、 苗海川、 臧晓丹、 苗洪远、 闫茹、 李天祥、 周晓光、 刘洁

标准简介

本标准规定了半导体分立器件、集成电路、LED封装用键合银丝的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存质量证明书、订货单(或合同)等内容。本标准适用于半导体封装用键合银丝

相似标准/计划/法规
GB/T 34502-2017
封装键合用镀金银及银合金丝
Gold-coated silver and silver alloy bonding wires for semiconductor package
2017-09-29
GB/T 34507-2017
封装键合用镀钯铜丝
Palladium coated copper bonding wire for semiconductor package
2017-10-14
GB/T 8750-2022
半导体封装用金基键合丝、带
Gold-based bonding wire and bandlet for semiconductor package
2022-12-30
ASTM F72-24
Standard Specification for Gold Wire for Semiconductor Lead Bonding
半导体引线键合用金线的标准规范
2024-04-01
YS/T 543-2015
半导体键合用铝-1%硅细丝
Standard specification for fine aluminum-1% silicon wire for semiconductor lead-bonding
2015-04-30
SJ/T 10626-1995
键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法
Method for determining impurities in gold wire for semiconductor lead bonding by ICP-AES
1995-04-22
SJ 21453-2018
集成电路陶瓷封装 金丝键合工艺技术要求
Integrated circuit ceramic package-Technical requirements for gold wire bonding process
2018-01-18
SJ 21454-2018
集成电路陶瓷封装 硅铝丝键合工艺技术要求
Integrated circuit ceramic package-Technical requirements for aluminum-silicon wire bonding process
2018-01-18
IEC 60191-5-1997
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 5: Recommendations applying to integrated circuit packages using tape automated bonding (TAB)
半导体器件的机械标准化 - 第5部分:使用磁带自动焊接(集成电路)应用于集成电路封装的建议
1997-04-23
半导体银丝封装用键合

最后更新时间 2025-09-02