现行 YS/T 1160-2016
工业硅粉定量相分析　二氧化硅含量的测定　X射线衍射K值法 工业硅粉定量相分析　二氧化硅含量的测定　X射线衍射K值法 Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-有色金属
CCS分类： H12冶金 - 金属化学分析方法 - 轻金属及其合金分析方法
ICS分类： 29.045电气工程 - 半导体材料
研制信息

归口单位： 全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)

起草单位： 昆明冶金研究院、 广州有色金属研究院、 国家有色金属及电子材料分析测试中心、 云南永昌硅业股份有限公司、 通标标准技术服务有限公司

起草人： 李和平、 胡耀东、 袁威、 金自钦、 高珺、 杨林、 张晶、 王书明、 李扬、 王钟颖、 王建波

标准简介

本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围：≥1%

相似标准/计划/法规
衍射射线定量测定含量

最后更新时间 2025-09-02