本标准规定了使用 X 射线辐射仪（光子平均能量约 10keV，最大光子能量不超过100keV）对半导体器件和电路进行电离辐射效应试验的方法和程序。适用于半导体器件的总剂量电离辐照评估试验
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半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射（总剂量）（IEC 60749-18-2019）；德国版本EN IEC 60749-18:2019