现行 JB/T 12962.3-2016
能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分:镀层厚度分析仪 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分:镀层厚度分析仪 Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer-Part 3: Plating thickness analyzer
发布日期:2016-10-22
实施日期:2017-04-01
分类信息
研制信息

归口单位: 全国工业过程测量控制和自动化标准化技术委员会

起草单位: 江苏天瑞仪器股份有限公司、 南通菲希尔测试仪器有限公司、 中国科学院上海硅酸盐研究所、 牛津仪器(上海〉有限公司

起草人: 吴敏、 周晓辉、 卓尚军、 徐家骥、 吴斌

标准简介

本部分规定了能量色散X射线荧光镀层厚度分析仪的术语和定义、测量范围、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本部分适用于采用X射线管为激发源,对镀层厚度进行无损测试的能量色散X射线荧光光谱仪,采用其它激发源的仪器可参照使用

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最后更新时间 2025-09-02