现行 YS/T 1164-2016
硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定　电感耦合等离子体发射光谱法 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定　电感耦合等离子体发射光谱法 Test method for the content of impurities in high purity quartz used for silicon material—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry method
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-有色金属
CCS分类： Q35建材 - 陶瓷、玻璃 - 石英玻璃
ICS分类： 81.040玻璃和陶瓷工业 - 玻璃
研制信息

归口单位： 全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)

起草单位： 亚洲硅业(青海)有限公司、 昆明冶研新材料股份有限公司、 洛阳中硅高科技有限公司、 新特能源股份有限公司

起草人： 王体虎、 魏东亮、 蔡延国、 宗冰、 季静佳、 陈英、 张云晖、 张园园、 邱艳梅

标准简介

本标准规定了多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定方法。本标准适用于多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定

相似标准/计划/法规
SJ/T 3228.2-2016
电子产品用高纯石英砂 第2部分:分析方法通则
High purity arenaceous quartz for used in electronics part 2:General specification for testing methods
2016-01-15
等离子体耦合电感杂质石英

最后更新时间 2025-09-02