现行 YB/T 4590-2017
硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 Determination of multi-element contents in high purity graphite used for silicon material-Inductively coupled plasma atomic emission spectrographic method
发布日期:2017-04-12
实施日期:2017-10-01
分类信息
研制信息

归口单位: 全国钢标准化技术委员会

起草单位: 亚洲硅业(青海)有限公司、 国家石墨产品质量监督检验中心、 昆明冶研新材料股份有限公司、 洛阳中硅高科技有限公司、 新特能源股份有限公司、 冶金工业信息标准研究院

起草人: 王体虎、 魏东亮、 蔡延国、 宗冰、 季静佳、 陈英、 周智勇、 李建新、 张云晖、 张园园、 邱艳梅、 郑景须

标准简介

本标准规定了电感耦合等离子体发射光谱法测定多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的方法。本标准适用于多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的测定

相似标准/计划/法规
等离子体耦合电感杂质测定

最后更新时间 2025-09-02