现行 JJF 1682-2017
光栅式测微仪校准规范 光栅式测微仪校准规范 Calibration Specification for Grating Micrometers
发布日期：2017-11-20
实施日期：2018-05-20
分类信息
发布单位或类别： 中国 国家计量技术规范
CCS分类： A52综合 - 计量 - 长度计量
ICS分类： 17.040计量学和测量、物理现象 - 长度和角度测量
研制信息

归口单位： 全国几何量工程参量计量技术委员会

起草单位： 中国科学院光电技术研究所、 中国测试技术研究院

起草人： 曹学东、 匡龙、 冉庆

标准简介

本规范适用于0.1μm级行程为0～10mm、0.2μm级行程为0～25mm、0. 5μm级行程为0～50mm、1μm级～10μm级行程为0～100mm的光栅式测微仪校准

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最后更新时间 2025-09-02