现行 JJF(电子)0014-2018
功率半导体器件老化系统校准规范 功率半导体器件老化系统校准规范 Calibration Specification for Power Semiconductor Devices Aging Systems
发布日期：2018-04-30
实施日期：2018-07-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 国家计量技术规范
CCS分类：
ICS分类：
研制信息

归口单位： 中国电子技术标准化研究院

起草单位： 中国电子技术标准化研究院

起草人： 刘冲、 李洁、 张珊、 高英、 李奇、 汤德勇

标准简介

本校准规范适用于直流电压运4500V，直流电流≤200A 的功率半导体器件老化系统(以下简称老化系统)的校准，功率半导体器件老化系统覆盖环境应力、直流功率应力等，常见设备包括:高温反偏老化系统、高低温老化测试系统、大功率(含微波)晶体管老化系统、高温高湿反偏老化系统、大功率晶体管老化系统、电容器高温老化系统等各种常见半导体器件/元件老化系统，其他元器件老化系统可参考进行校准

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最后更新时间 2025-09-02