归口单位： 工业和信息化部电子第四研究院
起草单位： 中国电子科技集团公司第十六研究所
起草人： 何川、 王自力、 纪斌、 吴志华
本标准规定了微波元器件低温环境下s参数的测试方法。本标准适用于微波元器件(包括放大器芯片、场效应晶体管、片式电容、片式电感、片式电阻)低温环境下的s参数测试
最后更新时间 2025-09-02