现行 SJ 21347-2018
低温器件与组件极低温度筛选试验方法 低温器件与组件极低温度筛选试验方法 Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L04电子元器件与信息技术 - 电子元器件与信息技术综合 - 基础标准与通用方法
ICS分类： 31.020电子学 - 电子元器件综合
研制信息

归口单位： 工业和信息化部电子第四研究院

起草单位： 中国电子科技集团公司第十六研究所

起草人： 纪斌、 徐友平、 贾黎、 杨海明、 张永清

标准简介

本标准规定了低温器件与组件极低温度筛选试验方法的一般要求和详细要求。本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法

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低温筛选极低组件器件

最后更新时间 2025-09-02