现行 SJ 21446-2018
CdS-N-T型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片规范 CdS-N-T型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片规范 Specification for cadmium sulfide monocrystalline wafers of CdS-N-T used for infrared/ultraviolet two-color detector
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料
ICS分类： 29.045电气工程 - 半导体材料
研制信息

归口单位： 工业和信息化部电子第四研究院

起草单位： 中国电子科技集团公司第四十六研究所

起草人： 张颖武、 程红娟、 齐海涛、 杨丹丹、 徐世海、 窦瑛、 郑风振、 张蔺蔺

标准简介

本规范规定了CdS-N-T型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片的要求、质量保证规定、交货准备等。本规范适用于CdS-N-T型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片(以下简称硫化镉晶片)

相似标准/计划/法规
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CdS-N型红外/紫外双色探测用硫化镉单晶片规范
Specification for cadmium sulfide monocrystalline wafers of CdS-N used for infrared/ultraviolet two-color detector
2018-01-18
硫化探测双色单晶CdS

最后更新时间 2025-09-02