归口单位: 工业和信息化部电子第四研究院
起草单位: 中国电子科技集团公司第五十八研究所
起草人: 常乾、 廖小平、 肖汉武、 明雪飞、 高娜燕、 王燕婷
本标准规定了集成电路陶瓷封装键合前检验的一般要求和详细要求。本标准适用于集成电路陶瓷封装引线键合前的芯片、外壳及键合丝的检验
最后更新时间 2025-09-02