归口单位: 工业和信息化部电子第四研究院
起草单位: 中国电子科技集团公司第五十八研究所
起草人: 王波、 廖小平、 肖汉武、 朱卫良、 姚昕、 常乾、 王燕婷
本标准规定了军用集成电路陶瓷封装金丝键合工艺(以下简称金丝键合工艺)的一般要求和对原材料、设备、工艺流程、关键控制点及检验的详细要求。本标准适用于军用集成电路陶瓷封装电路芯片与陶瓷外壳键合区的金丝键合工艺
最后更新时间 2025-09-02