现行 SJ 21473.1-2018
军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第1部分:通用条件和定义 军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第1部分:通用条件和定义
发布日期：
实施日期：2019-03-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L55电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微电路综合
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
标准简介

本部分规定了军用集成电路(IC)传导和辐射电磁抗扰度测量的通用条件和定义，规定了试验条件、试验设备和配置、试验程序和试验报告等内容。附录A给出了试验方法对照表，以帮助使用者选择合适的测量方法。本标准适用于在规定的测试环境中150kHz～1GHz对IC传导和辐射抗扰度进行测量。通过注入电压和电流的测量，以及受控条件下IC相应的测量，可以获得IC在特定应用过程中对传导射频（RF）骚扰和辐射RF骚扰的抗扰度。测量的结果可用于产品的比较或其他用途

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最后更新时间 2025-09-02