现行 SJ 21473.3-2018
军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第3部分:传导抗扰度测量-大电流注入(BCI)法 军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第3部分:传导抗扰度测量-大电流注入(BCI)法
发布日期：
实施日期：2019-03-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L55电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微电路综合
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
标准简介

本部分规定了军用集成电路(IC )遭受射频(RF)信号直接辐射而在设备和系统线缆上感应出的电流时的传导骚扰抗扰度要求和试验方法。本部分适用于具有板外连接线的IC,如连接到电缆束中。本方法用于把RF电流注入到一根或一束电缆中，为设备内部使用的半导体器件的评估提供了通用方法

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集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰度的测量.第3部分:大电流注入（BCI）法（IEC 62132-3-2007）；德文版EN 62132-3:2007
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最后更新时间 2025-09-02