集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 4: Direct RF power injection method
2024-12-31
SJ 21473.3-2018
军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第3部分:传导抗扰度测量-大电流注入(BCI)法
SJ 21473.5-2018
军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第5部分:传导抗扰度测量-工作台法拉第笼法
SJ 21473.6-2021
军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第6部分:脉冲抗扰度测量-同步瞬态注入法
SJ 21473.7-2021
军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第7部分:脉冲抗扰度测量-非同步瞬态注入法
IEC 62132-4-2006
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method
集成电路 - 电磁抗扰度测量150 Khz至1 Ghz - 第4部分:直接Rf功率注入法
2006-02-21
DIN EN 62132-4
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method (IEC 62132-4:2006); German version EN 62132-4:2006
集成电路.150 kHz至1 GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法（IEC 62132-4-2006）；德文版EN 62132-4:2006