现行 SJ/T 11703-2018
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法 Crosstalk test method for digital microelectronic device packages
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L55电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微电路综合
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
研制信息

归口单位： 全国集成电路标准化分技术委员会

起草单位： 中国电子技术标准化研究院、 中国电子科技集团公司第十三研究所、 清华大学

起草人： 王琪、 张崤君、 贾松良

标准简介

本标准规定了在数字微电子器件封装引出端之间，测试宽带数字信号和噪声交叉耦合水平的方法。本标准适用于数字微电子器件封装。当驱动和负载阻抗已知时，适用于多种逻辑系列产品

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最后更新时间 2025-09-02