归口单位： 工业和信息化电子第四研究院
起草单位： 工业和信息化电子第四研究院、 北京燕东微电子有限公司、 中国航天集团公司第九研究院第七七一研究所、 中国电子科技集团公司第二十四研究所、 中国电子科技集团第五十八研究所、 西安电子科技大学、 勤智数码科技股份有限公司
起草人： 李锟、 张彦秀、 张文鹏、 王晨杰、 黄磊、 王志宽、 贾新章、 游海龙、 罗晓羽、 尹航、 廖昕、 赖庆华
本标准规定了集成电路制造过程中P-N结隔离耐压的测量方法。本标准适用于集成电路制造过程中P-N结隔离耐压的测试
最后更新时间 2025-09-02