现行 SJ/T 11699-2018
IP核可测性设计指南 IP核可测性设计指南 Guidelines for design for testability of IP cores
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L55电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微电路综合
ICS分类： 13.300环保、保健和安全 - 危险品防护
研制信息

归口单位： 全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

起草单位： 哈尔滨工业大学、 中国电子技术标准化研究院、 工业和信息化部软件与集成电路促进中心

起草人： 王永生、 肖立伊、 付方发

标准简介

本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试

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最后更新时间 2025-09-02