现行 SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 Semiconductor integrated circuits test methodof field programmable gate array
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L55电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微电路综合
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
研制信息

归口单位： 全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

起草单位： 中国电子技术标准化研究院、 上海复旦微电子集团股份有限公司、 中国科学院电子技术研究所

起草人： 刘芳、 尹航、 胡海涛

标准简介

本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（Field Programmable Gate Array，以下简称FPGA）的电参数测试方法

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集成电路半导体门阵列现场测试

最后更新时间 2025-09-02