现行 YS/T 37.2-2018
高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量 高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量 Methods for chemical analysis of high pure germanium dioxide-Determination of silicon content by molybdenum blue spectrophotomertic method
发布日期：2018-10-22
实施日期：2019-04-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-有色金属
CCS分类： H17冶金 - 金属化学分析方法 - 半金属及半导体材料分析方法
ICS分类： 77.040.30金属材料试验 - 金属材料化学分析
研制信息

归口单位： 全国有色金属标准化技术委员会

起草单位： 国标(北京)检验认证有限公司、 云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、 中锗科技有限公司、 广东先导稀材股份有限公司

起草人： 刘红、 李爱嫦、 曹振华、 李凤娥、 刘英、 赵春华、 普世坤、 吴王昌、 袁承乾、 沈海枝、 吴杰

标准简介

本部分规定了高纯二氧化锗中硅含量的测定方法。本部分适用于高纯二氧化锗中硅含量的测定，测定范围：0.00001％～0.00010％

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最后更新时间 2025-09-02