现行 SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法 半导体集成电路 电压比较器测试方法 Semiconductor integrated circuits Measuring methods for voltage comparators
发布日期:2018-02-09
实施日期:2018-04-01
分类信息
研制信息

归口单位: 全国集成电路标准化分技术委员会

起草单位: 中国电子技术标准化研究院、 中国电子科技集团公司第二十四研究所、 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所

起草人: 李锟、 钟英峻、 闫永超

标准简介

本标准规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法

相似标准/计划/法规
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage comparators
1996-07-09
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators
2018-03-15
SJ 50597/23-1994
半导体集成电路JJ710型电压比较器详细规范
Semiconductor integrated circuits Detail specification for type JJ710 Voltage comparator
1994-09-30
GOST 23089.1-1983
Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента усиления операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器增益的方法
GOST 23089.3-1983
Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и э. д. с. cмещения нуля операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器零偏移电压和电动势的方法
GOST 23089.5-1983
Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器消耗电流和功率的方法
GOST 23089.11-1983
Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器输入共模电压抑制比的方法
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
2018-03-15
GB/T 42838-2023
半导体集成电路 霍尔电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
2023-08-06
GOST 23089.0-1978
Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器电气参数的一般要求
GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
2018-06-07
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
2018-03-15
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
2018-03-15
GB/T 42970-2023
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits
2023-09-07
GB/T 14030-1992
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
1992-12-17
SJ/T 11702-2018
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
Semiconductor integrated circuits Measuring methods for serial peripheral interface
2018-02-09
GB/T 44924-2024
半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring methods for RF transmitter/receiver
2024-12-31
GOST 23089.14-1988
Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения
集成微电路 用于测量电压比较器的开/关的延迟时间的方法
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits
1992-12-17
GOST 28814-1990
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
集成电路 测量脉动调压器运行电路电气参数的方法
集成电路半导体电压测试方法

最后更新时间 2025-09-02