现行 JJF 1760-2019
硅单晶电阻率标准样片校准规范 硅单晶电阻率标准样片校准规范 Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
发布日期：2019-09-27
实施日期：2020-03-27
分类信息
发布单位或类别： 中国 国家计量技术规范
CCS分类： A56综合 - 计量 - 无线电计量
ICS分类： 17.220计量学和测量、物理现象 - 电学、磁学、电和磁的测量
研制信息

归口单位： 全国无线电计量技术委员会

起草单位： 中国计量科学研究院

起草人： 高英、 李兰兰

标准简介

本规范适用于电阻率在0.003Ω·cm～1000Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准

相似标准/计划/法规
样片校准单晶

最后更新时间 2025-09-02